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福禄克光纤测试过程中衰减不合格(失败)的原因?

发布日期:2015年09月17日   浏览次数:14次   编辑:深圳连讯

福禄克光纤测试过程中衰减不合格(失败)的原因?我们在从事福禄克光纤测试的时候经常会面临光纤衰减不合格。福禄克的常见光纤测试仪DTX-1800配套单多模模块DTX-EFM2和DTX-SFM2。还有CFP-100-QOFP-100-Q等测试仪。造成光纤衰减的主要因素有:本征弯曲挤压杂质不均匀对接等。

 

本征:是光纤的固有损耗,包括:瑞利散射,固有吸收等。

 

弯曲:光纤弯曲时部分光纤内的光会因散射而损失掉,造成损耗。

 

挤压:光纤受到挤压时产生微小的弯曲而造成的损耗。

 

杂质:光纤内杂质吸收和散射在光纤中传播的光,造成的损失。

 

不均匀:光纤材料的折射率不均匀造成的损耗。

 

对接:光纤对接时产生的损耗,如:不同轴(单模光纤同轴度要求小于0.8μm),端面与轴心不垂直,端面不平,对接心径不匹配和熔接质量差等。

 

当光从光纤的一端射入,从另一端射出时,光的强度会减弱。这意味着光信号通过光纤传播后,光能量衰减了一部分。这说明光纤中有某些物质或因某种原因,阻挡光信号通过。这就是光纤的传输损耗。只有降低光纤损耗,才能使光信号畅通无阻。

 


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原创标题:福禄克光纤测试过程中衰减不合格(失败)的原因?
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