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环形通量 —它是什么？

随着 LC/MPO 盒之类低损耗光纤组件的推广应用，损耗预算（测试限制）变得越来越小。这样一来，安装商会发现以前进行光线测试的方法和假设不再适用。

虽然电信工业协会 (TIA) 依旧允许每个连接器的衰减为 0.75 dB，但工厂抛光连接器的衰减接近 0.2 dB。因此，在测试 TIA 极限值时，安装商面对诸多的不确定性。换句话说，他们的测试实践需要合理化，而不求完美。

然而，咨询人员和布线供应商现在都开始根据组件性能而不是标准精确计算损耗预算。测试实践中的允许公差已不存在。为了与时俱进，安装商需要重新评估他们的光纤测试仪设备和程序。

通过舱壁接合器设置基准不再是可有可无，而必须运用一条基准测试线（1 个跳接）保持从源到仪表的基准。进行某些设置时，需要对新的测试设备进行投资并提供一些必要相关培训。

测试基准线也必须配备基准等级连接器，ISO/IEC 14763-3将其定义为在多种模式下=0.1 dB，在单一模式下 =0.2 dB。当低损耗盒配备 0.15 dB LC 连接器时，若使用任何不及 0.15 dB 的 LC 连接器进行测试，结果将不容乐观或者可能失败。

当许多安装商正竞相调整和优化他们的测试程序时，在本篇文章的最后部分将介绍降低测量不确定性的方法，您可能已经听说过。它称作环形通量 (EF)。

如果两个技术人员使用带基准等级连接器及心轴的相同基准测试线，但采用两种不同的光源，那么可能会出现两种不同的读数。我们从 ISO/IEC 14763-3在测量不确定性方面所做的工作了解到，使用相同的源能够将衰减度限制在 +/- 0.09 dB 范围内。

这便是光纤测试的性质。光纤连接被认为是随机的，这是配备基准等级连接器非常重要的原因。然而，如果您当时使用两个不同的光源，即使您已经对它们做出了调整，也会出现额外的不确定性。这一不确定性是由光射入光纤的方式导致的。

很多年前，虽然有时被称为耦合效率 (CPR)，TIA 还是尝试这一发射概念定义。那是一个很好的尝试，但源之间的发射依然存在太多的可变性。因此，在2010中， TIA 和 IEC 创建了 EF，以便进一步限制发射条件。

关于那些插入标准数字的排列，您需要留意针对 EF 的 ANSI/TIA-526-14-B 或 IEC61280-4-2 （它们是相同的文档）。缺失这个标准即是如何在这一领域进行实施。很多人认为，这是属于实验室的要求，因为目前在这一领域的实施状况并不理想。

为此， TIA 正致力于解决 TIA-TSB-4979 的实际问题，以实现这一领域多模发射的条件。电信系统公告介绍了两种方法。一种是使用替代心轴的模式调节器，这种方法不太令人满意（而且成本不菲）。另外一种方法是配备剔除了多余模式设备的 EF 兼容源。

EF 兼容似乎将成为接下来一年许多测试规范的需求，因此，安装商可能会关注这一领域的发展。